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大型精密万向式镜架

说明


φ100mm以上镜片用万向式镜架。

可调整大镜片的倾斜，减少源于镜片倾斜而导致的光程误差。

产地：日本
产品介绍
产品描述
●在反射镜的底面，使用3个头部为树脂的螺钉固定，便于固定各种不同厚度的镜片。
●采用了大外径旋钮的差动微分头，容易实现角度的精密调整。
通用指标
主要材料 铝合金
表面处理 黑色漆（镜架座），黑色氧化（镜框）
型号 对比 单价 发货日期 购物车
MHD-100
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大型精密万向式镜架 /MHD-100
适用元器件外径(mm) 100 适用元器件厚度(mm) 5～28
调整范围俯仰(°) 调整范围方位(°)
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.57 粗调分辨率方位(°/周) 约0.57
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0008 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0008
自重(kg) 2.1
MHD-101.6
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大型精密万向式镜架 /MHD-101.6
适用元器件外径(mm) 101.6 适用元器件厚度(mm) 5～28
调整范围俯仰(°) ±5.7 调整范围方位(°) ±5.7
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.57 粗调分辨率方位(°/周) 约0.57
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0008 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0008
自重(kg) 2.1
MHD-150
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大型精密万向式镜架 /MHD-150
适用元器件外径(mm) 150 适用元器件厚度(mm) 5～38
调整范围俯仰(°) ±5.7 调整范围方位(°) ±5.7
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.43 粗调分辨率方位(°/周) 约0.43
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0006 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0006
自重(kg) 3.3
MHD-152.4
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大型精密万向式镜架 /MHD-152.4
适用元器件外径(mm) 152.4 适用元器件厚度(mm) 5～38
调整范围俯仰(°) ±4.3 调整范围方位(°) ±4.3
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.43 粗调分辨率方位(°/周) 约0.43
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0006 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0006
自重(kg) 3.3
MHD-200
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大型精密万向式镜架 /MHD-200
适用元器件外径(mm) 200 适用元器件厚度(mm) 20～44
调整范围俯仰(°) ±4.3 调整范围方位(°) ±4.3
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.34 粗调分辨率方位(°/周) 约0.34
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0005 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0005
自重(kg) 4.9
MHD-203.2
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大型精密万向式镜架 /MHD-203.2
适用元器件外径(mm) 203.2 适用元器件厚度(mm) 20～44
调整范围俯仰(°) ±3.4 调整范围方位(°) ±3.4
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.34 粗调分辨率方位(°/周) 约0.34
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0005 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0005
自重(kg) 4.9
MHD-254
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大型精密万向式镜架 /MHD-254
适用元器件外径(mm) 254 适用元器件厚度(mm) 40～54
调整范围俯仰(°) ±3.4 调整范围方位(°) ±3.4
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.28 粗调分辨率方位(°/周) 约0.28
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0004 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0004
自重(kg) 6.2
MHD-254-UU
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大型精密万向式镜架 /MHD-254-UU
适用元器件外径(mm) 254 适用元器件厚度(mm) 40～54
调整范围俯仰(°) ±2.8 调整范围方位(°) ±2.8
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.28 粗调分辨率方位(°/周) 约0.28
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0004 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0004
自重(kg) 6.2
MHD-300
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大型精密万向式镜架 /MHD-300
适用元器件外径(mm) 300 适用元器件厚度(mm) 40～54
调整范围俯仰(°) ±2.8 调整范围方位(°) ±2.8
粗调分辨率俯仰(°/周) 约0.23 粗调分辨率方位(°/周) 约0.23
差动测微头刻度俯仰(°/DIV) 约0.0003 差动测微头刻度方位(°/DIV) 约0.0003
自重(kg) 11
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