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芬创商城 > 产品中心 > 光学调整架 > 反射镜镜架 > 万向式镜架 > 螺杆型差动测微头型

螺杆型差动测微头型

说明


由于是万向式镜架构造，反射镜面与旋转中心重合，可自由改变反射镜的角度。

适用于调整激光束方向或切换反射光束方向。

产地：日本
产品介绍
产品描述
●万向式的构造加上可切换的微调机构，可以在所有方向对反射激光束的角度进行微调。
●使用螺纹环从反射镜的后面固定反射镜，所以即使改变了反射镜的厚度，反射面仍在镜框的基准面处，其反射面位置不变。也就是说，旋转中心始终在反射面上。
通用指标
主要材料 铝合金
表面处理 黑色氧化
型号 对比 单价 发货日期 购物车
MHAN-20S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-20S
适用元器件外径(mm) 20 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 9.2 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.3
MHAN-25.4S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-25.4S
适用元器件外径(mm) 25、25.4 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 12.7 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.4
MHAN-30S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-30S
适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.4
MHAN-40S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-40S
适用元器件外径(mm) 40 适用元器件厚度(mm) 2～8
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 23.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.45
微调分辨率方位(°/周) 约0.55 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.6
MHAN-50S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50S
适用元器件外径(mm) 50 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.7
MHAN-50.8S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50.8S
适用元器件外径(mm) 50.8 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.7
MHAN-60S
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-60S
适用元器件外径(mm) 60 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 37.5 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.31
微调分辨率方位(°/周) 约0.41 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.9
MHA-80S
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螺杆型差动测微头型 /MHA-80S
适用元器件外径(mm) 80 适用元器件厚度(mm) 4～15
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 50.9 微调范围俯仰(°) ±3.5
微调范围方位(°) ±5 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.49
微调分辨率方位(°/周) 约0.72 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 1.6
MHA-100SA
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螺杆型差动测微头型 /MHA-100SA
适用元器件外径(mm) 100 适用元器件厚度(mm) 4～15
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 65.1 微调范围俯仰(°) ±3.4
微调范围方位(°) ±5 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.52 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 1.9
MHA-130SA
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螺杆型差动测微头型 /MHA-130SA
适用元器件外径(mm) 130 适用元器件厚度(mm) 7～18
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 86.3 微调范围俯仰(°) ±2.9
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.30
微调分辨率方位(°/周) 约0.42 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 2.3
MHA-150S
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螺杆型差动测微头型 /MHA-150S
适用元器件外径(mm) 150 适用元器件厚度(mm) 4～20
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 100.4 微调范围俯仰(°) ±2.5
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.26
微调分辨率方位(°/周) 约0.38 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 2.5
MHAN-30DM
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-30DM
适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约1.08
微调分辨率方位(°/周) 约1.35 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.11
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.14 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.002
精密微调刻度方位(°/DIV) 约0.002 自重(kg) 0.47
MHAN-50DM
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50DM
适用元器件外径(mm) 50 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.71
微调分辨率方位(°/周) 约0.95 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.07
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.10 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.001
精密微调刻度方位(°/DIV) 约0.002 自重(kg) 0.58
MHAN-20S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-20S-N
适用元器件外径(mm) 20 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 9.2 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.15
MHAN-25.4S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-25.4S-N
适用元器件外径(mm) 25、25.4 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 12.7 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.25
MHAN-30S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-30S-N
适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.25
MHAN-40S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-40S-N
适用元器件外径(mm) 40 适用元器件厚度(mm) 2～8
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 23.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.45
微调分辨率方位(°/周) 约0.55 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.45
MHAN-50S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50S-N
适用元器件外径(mm) 50 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.55
MHAN-50.8S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50.8S-N
适用元器件外径(mm) 50.8 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.55
MHAN-60S-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-60S-N
适用元器件外径(mm) 60 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 37.5 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.31
微调分辨率方位(°/周) 约0.41 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.75
MHAN-30DM-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-30DM-N
适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约1.08
微调分辨率方位(°/周) 约1.35 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.11
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.14 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.002
精密微调刻度方位(°/DIV) 约0.002 自重(kg) 0.32
MHAN-50DM-N
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50DM-N
适用元器件外径(mm) 50 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.71
微调分辨率方位(°/周) 约0.95 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.07
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.10 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.001
精密微调刻度方位(°/DIV) 约0.002 自重(kg) 0.43
MHAN-20S-UU
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-20S-UU
适用元器件外径(mm) 20 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 9.2 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.15
MHAN-25.4S-UU
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-25.4S-UU
适用元器件外径(mm) 25、25.4 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 12.7 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.25
MHAN-30S-UU
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-30S-UU
适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.54
微调分辨率方位(°/周) 约0.68 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.25
MHAN-40S-UU
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-40S-UU
适用元器件外径(mm) 40 适用元器件厚度(mm) 2～8
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 23.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.45
微调分辨率方位(°/周) 约0.55 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.45
MHAN-50S-UU
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适用元器件外径(mm) 50 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.55
MHAN-50.8S-UU
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螺杆型差动测微头型 /MHAN-50.8S-UU
适用元器件外径(mm) 50.8 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.35
微调分辨率方位(°/周) 约0.48 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.55
MHAN-60S-UU
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适用元器件外径(mm) 60 适用元器件厚度(mm) 3～11
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 37.5 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.31
微调分辨率方位(°/周) 约0.41 精密微调分辨率俯仰(°/周) -
精密微调分辨率方位(°/周) - 精密微调刻度俯仰(°/DIV) -
精密微调刻度方位(°/DIV) - 自重(kg) 0.75
MHAN-30DM-UU
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适用元器件外径(mm) 30 适用元器件厚度(mm) 2～6
反射光束有效直径(mm)（45度入射） 16.3 微调范围俯仰(°) ±4
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约1.08
微调分辨率方位(°/周) 约1.35 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.11
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.14 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.002
精密微调刻度方位(°/DIV) 约0.002 自重(kg) 0.32
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反射光束有效直径(mm)（45度入射） 30.4 微调范围俯仰(°) ±3
微调范围方位(°) ±4 微调分辨率俯仰(°/周) 约0.71
微调分辨率方位(°/周) 约0.95 精密微调分辨率俯仰(°/周) 约0.07
精密微调分辨率方位(°/周) 约0.10 精密微调刻度俯仰(°/DIV) 约0.001
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